La nuova generazione di hardware ScanFLEX modulari, scalabili, presente nelle diverse piattaforme di test (PCI, USB, LAN, PXI, LXI), basata su Chipset Space II rappresenta l’unica architettura disponibile sul mercato che implementa il concetto di BOUNDARY SCAN Esteso.
I controller sono in grado di lavorare con TCK fino a 80MHz con transceiver fino a 8 TAP (Test Access Port) per realizzare test e programmazione in puro parallelismo.
Grazie all’ausilio di moduli esterni di I/O analogici, digitali, mixed signal, LVSD, è possibile estendere il test della scheda connettendosi al connettore bordo scheda, o su appositi Test Point, e testando anche net o componenti che diversamente non erano raggiungibili internamente.
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